電子產(chǎn)品可靠性與白盒測試高級研修班

活動綱要/Outline
講課內(nèi)容屆時根據(jù)實際情況會有所調(diào)整。
1、 測試基礎(chǔ)
1.研發(fā)樣機測試與中試樣機測試的區(qū)別
2.原理驗證和一致性驗證的判據(jù)區(qū)別
3.測試的工具方法類型（模擬測試、仿真、工程計算、規(guī)范審查）
4.基于單一故障的接口故障分析及測試模擬方法
5.測試覆蓋率與MECE方法

2、波形診斷
1.電路常見異常波形的種類
2.回勾波形的成因與應(yīng)對措施
3.過沖波形的成因與應(yīng)對措施
4.振蕩波形的成因與應(yīng)對措施
5.平臺波形的成因與應(yīng)對措施
6.塌陷波形的成因與應(yīng)對措施
7.鼓包波形的成因與應(yīng)對措施
3、參數(shù)計算與審查
1.WCCA參數(shù)分析      2.容差計算
3.蒙特卡洛分析方法  4.降額審查
5.熱測試與計算
6.常用各類電路里器件參數(shù)計算審查（電容、電感、磁珠、電阻、開關(guān)管等）

4、一致性測試及測試數(shù)據(jù)分析
1.批次數(shù)據(jù)分析 
2.正態(tài)分布的工程意義
3.各種異化正態(tài)分布曲線的含義與機理
5、單一故障分析與模擬測試
1.設(shè)計調(diào)查表
2.用戶現(xiàn)場環(huán)境條件（環(huán)境對產(chǎn)品零部件的失效影響及模擬測試方法）
3.人機接口條件（操作者認知與習慣的潛在隱患防護）
4.關(guān)聯(lián)設(shè)備的相互影響（能量與信號輸入輸出的相互潛在影響及模擬測試方法）

6、基于失效機理的應(yīng)力測試
1.常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應(yīng)力
2.針對失效機理的模擬測試用例設(shè)計
7、軟件測試
1.路徑覆蓋的測試用例設(shè)計方法
2.數(shù)據(jù)覆蓋的測試用例設(shè)計方法
3.黑盒測試與白盒測試的測試用例設(shè)計方法
8、器件質(zhì)量控制測試
1.光學檢測  
2.參數(shù)測試與統(tǒng)計分析
3.IV曲線測試

9、標準符合性測試
1.通用標準測試項目
2.安規(guī)（通用安規(guī)要求、安規(guī)測試判據(jù)、氣、液、電混合布局安規(guī)測試用例）
3.電磁兼容
4.產(chǎn)品內(nèi)部不同類型模塊之間的相互影響檢查與測試
10、基于失效機理的應(yīng)力測試
1.常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應(yīng)力
2.針對失效機理的模擬測試用例設(shè)計
11、應(yīng)力變化率測試
1.環(huán)境應(yīng)力變化率的影響
2.負載應(yīng)力變化率的影響
3.能量及信號輸入變化率的影響
4.過渡過程應(yīng)力對設(shè)備故障的影響
12、組合應(yīng)力測試
1.現(xiàn)場多應(yīng)力組合示例
13、器件失效特征規(guī)律和故障原因分析方法
1.電流應(yīng)力與電壓應(yīng)力的故障特征區(qū)別
2.突發(fā)浪涌應(yīng)力與持續(xù)過電應(yīng)力的故障特征區(qū)別

講師介紹/Lecturer
武曄卿
中國電子標準協(xié)會特聘專家
電子工程碩士，曾任航天二院總體設(shè)計所主任設(shè)計師、高級項目經(jīng)理，機電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。有電子產(chǎn)品、軍工、通信等專業(yè)方向的設(shè)計、測評和技術(shù)管理經(jīng)歷，對產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計、可靠性設(shè)計、技術(shù)管理有較深入研究，曾在學術(shù)會議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章。
曾為比亞迪、中電30所、29所、松下電工、北京華峰測控、北京航天長峰、普析通用儀器、航天二院、航天五院、南車四方股份等企業(yè)提供專業(yè)技術(shù)和技術(shù)管理輔導、培訓和咨詢。